測(cè)量方法的區(qū)別：
XT60 雙向?qū)ι?nbsp; 點(diǎn)激光 ，支持三種測(cè)量方法為：不停車連續(xù)掃描測(cè)量，測(cè)量點(diǎn)多、多點(diǎn)測(cè)量、三點(diǎn)測(cè)量。
XT40 雙向?qū)ι?nbsp; 線激光，支持一種測(cè)量方法為：三點(diǎn)測(cè)量。
XT60測(cè)量方法*包含XT40。
調(diào)整方法的區(qū)別：
線激光：測(cè)量完成后，兩個(gè)探頭在高低（左右）方向跟蹤設(shè)備的高低（左右）實(shí)時(shí)調(diào)整。
點(diǎn)激光 : 測(cè)量完成后，兩個(gè)探頭在任意位置跟蹤設(shè)備的高低或左右實(shí)時(shí)調(diào)整。
點(diǎn)激光可以提供更方便的調(diào)整方法。
岳蓓
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